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首頁(yè)-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。
首頁(yè)-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀產(chǎn)品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。
首頁(yè)-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀1.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。2.實(shí)驗開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。3.臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。4.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。5.箱內壓力愈大時(shí),設備會(huì )有反壓會(huì )使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延老化箱壽命。塑料片pct高壓加速老化箱使用條件:溫度:5℃~+28℃(24小時(shí)內平均溫度≤28℃)相對濕度:≤85%RH氣壓:86kPa~106kPa供電條件 三相四線(xiàn)+保護地線(xiàn),電壓范圍:AC(380±38)V頻率允許波動(dòng)范圍:(50±0.5)Hz保護地線(xiàn)接地電阻小于4Ω主營(yíng)產(chǎn)品:塑料片pct高壓加速老化箱-高壓加速老化試驗箱-鹽霧試驗箱-高低溫試驗箱-高溫恒溫試驗箱-紫外老化試驗箱-氙燈老化試驗箱-臭氧老化試驗箱-恒溫恒濕試驗箱-換氣式老化試驗箱-砂塵試驗箱-箱式淋雨試驗箱-冷熱沖擊試驗箱-振動(dòng)試驗臺-霉菌培養箱-高溫試驗箱-低溫試驗箱-恒溫試驗箱-跌落試驗臺-三綜合試驗箱-二氧化硫腐蝕試驗塑料片pct高壓加速老化箱產(chǎn)品用途:塑料片pct高壓加速老化箱()又稱(chēng)為高壓加速老化試驗箱,主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域,確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時(shí)作用下的環(huán)境適應性與可靠性試驗,并或同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數的測量。
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